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失效分析单项检测

俄歇电子能谱分析(AES)

 

X射线分析 (X-ray)

 

金相切片分析 (Metallographic)

 

SEM和EDS分析 (SEM&EDS)

 

激光共聚焦显微拉曼光谱分析 (Micro Raman spectroscopy)

 

X射线衍射分析(XRD)

 

显微傅里叶红外光谱分析 (FTIR)

 

声学扫描分析(C-SAM)

 

透视电子显微镜(TEM)

 

X射线荧光光谱分析(XRF)

 

染色分析 (Staining)

 

 

电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)
 
X-RAY透视显微镜
 
气相色谱-质谱联用仪GC-MS
 
扫描电子显微镜与能谱仪SEM/EDS 声学扫描显微镜SAM 透射电子显微镜TEM

 

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